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SPM
Rasterpositronenmikroskop
Das Rasterpositronenmikroskop (SPM) ermöglicht Positronenlebensdauermessungen mit einer lateralen Auflösung im µm-Bereich und in einem Energiebereich von 1-20 keV. Somit ermöglicht dieses Instrument die hochaufgelöste Messung von 3D-Defektverteilungen. Im Labor limitieren die langen Messzeiten von mehreren Tagen pro 2D-Bild aufgrund der geringen Intensität einer Standard 22Na Quelle die breite Anwendung des SPMs. Dieser Nachteil wird durch die Installation des SPM am Positronenstrahl von NEPOMUC überwunden.
Dafür wurde eine SPM-Schnittstelle entwickelt und erfolgreich getestet [1]. Das Gerät transformiert den kontinuierlichen Strahl von NEPOMUC in einem brillanten gepulsten Positronenstrahl, der den Anforderungen des SPMs gerecht wird. Eine Probenkammer wurde mit der SPM-Schnittstelle verbunden, die räumlich aufgelöste Positronenlebensdauermessungen mit einer lateralen Auflösung im Bereich von 0,1 mm ermöglicht.
[1] Piochacz, C et al., Physica status solidi / C, 4(10), 4028-4031 (2007).
Instrumentverantwortlicher
Dr. Marcel Dickmann
Telefon: +49 (0)89 289-11770
E-Mail: marcel.dickmann@frm2.tum.de
Johannes Mitteneder
Telefon: +49 (0)89 289-54722
E-Mail: Johannes.Mitteneder@frm2.tum.de
Betreiber
News
Successful ErUM-Pro proposals
Read moreHeinz Maier-Leibnitz Zentrum. (2015). SPM: Scanning positron microscope. Journal of large-scale research facilities, 1, A26. http://dx.doi.org/10.17815/jlsrf-1-53
Zitat bitte stets einschließlich DOI.
Galerie
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