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SPM

Rasterpositronenmikroskop

Das Rasterpositronenmikroskop (SPM) ermöglicht Positronenlebensdauermessungen mit einer lateralen Auflösung im µm-Bereich und in einem Energiebereich von 1-20 keV. Somit ermöglicht dieses Instrument die hochaufgelöste Messung von 3D-Defektverteilungen. Im Labor limitieren die langen Messzeiten von mehreren Tagen pro 2D-Bild aufgrund der geringen Intensität einer Standard 22Na Quelle die breite Anwendung des SPMs. Dieser Nachteil wird durch die Installation des SPM am Positronenstrahl von NEPOMUC überwunden.

Dafür wurde eine SPM-Schnittstelle entwickelt und erfolgreich getestet [1]. Das Gerät transformiert den kontinuierlichen Strahl von NEPOMUC in einem brillanten gepulsten Positronenstrahl, der den Anforderungen des SPMs gerecht wird. Eine Probenkammer wurde mit der SPM-Schnittstelle verbunden, die räumlich aufgelöste Positronenlebensdauermessungen mit einer lateralen Auflösung im Bereich von 0,1 mm ermöglicht.

[1] Piochacz, C et al., Physica status solidi / C, 4(10), 4028-4031 (2007).

Technische Daten
Strahleigenschaften
  • Positronenimplantationsenergie: < 20 keV / < 10 keV
  • Strahldurchmesser: < 1 μm / ≈ 0.1 mm
  • Zählrate: > 2000 cps / > 4000 cps
  • Zeitfenster: 20 ns
  • Zeitauflösung: < 250 ps
  • Peak / Untergrund: > 5000 : 1 / > 2000 : 1
Typische Messzeiten
  • SPM: ~ 1 Tag für einen 2D-Scan (12 × 12 µm2)
  • SPM-Schnittstelle: ≈ 0.5 Tage für einen 2D-Scan (1 × 1 µm2)

Instrumentverantwortlicher

Dr. Marcel Dickmann
Telefon: +49 (0)89 289-11770
E-Mail: marcel.dickmann@frm2.tum.de

Johannes Mitteneder
Telefon: +49 (0)89 289-54722
E-Mail: Johannes.Mitteneder@frm2.tum.de

Betreiber

UniBW

TUM

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Zitierung Instrument

Heinz Maier-Leibnitz Zentrum. (2015). SPM: Scanning positron microscope. Journal of large-scale research facilities, 1, A26. http://dx.doi.org/10.17815/jlsrf-1-53

Zitat bitte stets einschließlich DOI.

Galerie

SPM
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© W. Schürmann, TUM
Zeitspektrum
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SPM Schema
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