PLEPS

Gepulstes niederenergetisches Positronensystem

PLEPS ist ein einzigartiges Werkzeug für die Tiefenuntersuchung von Defekten mit der Positronenannihilationslebensdauerspektroskopie mit Hilfe eines gepulsten Positronenstrahls variabler Energie.

Positronenlebensdauermessungen erlauben die Bestimmung von Art und Größe von offenen Volumendefekten (wie Leerstellen, Leerstellencluster, Versetzungen, Korngrenzen usw. und freie Volumina in Polymeren) in einer Vielzahl von Materialien und geben Auskunft über die Defektkonzentration. In Kombination mit einem monoenergetischen Positronenstrahl variabler Energie ist eine tiefenaufgelöste Defektanalyse möglich. [1]

[1] Egger, W., J. Phys. Conf. Ser. 240(1), 012164 (2010).

Typische Anwendungen

Defektidentifizierung in dünnen Schichten und Schichtstrukturen von Metallen, Halbleitern und Isolatoren
Strahleninduzierte Defekte in Materialien für Fusions- und Spaltreaktoren
Charakterisierung von freien Volumina in Polymeren und Gläsern und Membranen

Technische Daten

Strahleigenschaften

Positronenimplantationsenergie: 0,5 – 20 keV
Strahlfleck: Ø < 1 mm
Zählrate: ~ 10 000 – 20 000 cps

Probe

Begrenzt auf 3 × 3 – 10 × 10 mm²

Typische Messzeiten

~ 4 – 10 min pro Spektrum (4 × 10⁶ Zählereignisse im Spektrum)
Tiefenprofil: 1 – 2 h (15 – 20 Eindringenergien, 4 × 10⁶ Zählereignisse im Spektrum)
Zeitfenster: 40 ns/ 160 ns / 320 ns
Zeitauflösung: 180 ps
Peak/ Background: > 100 000 : 1

Instrumentverantwortlicher

Dr. Werner Egger
Telefon (Büro MLZ): +49 (0)89 289-14609
Telefon (Büro UniBw): +49 (0)89 6004-3507
E-Mail: werner.egger@unibw-muenchen.de

Betreiber

Förderung

Zitierung Instrument

Heinz Maier-Leibnitz Zentrum. (2015). PLEPS: Pulsed low energy positron system. Journal of large-scale research facilities, 1, A25. http://dx.doi.org/10.17815/jlsrf-1-52

Zitat bitte stets einschließlich DOI.

Galerie

PLEPS

Spektrum der Lebenszeit eines Positrons

AMoC Spektrum

PLEPS Komponenten