Nanostrukturen

Neutronenkleinwinkelstreuinstrumente und Reflektrometer verwenden eine Streugeometrie, die hauptsächlich in Strahlrichtung gerichtet ist. Dadurch können mit beiden Instrumenttypen Strukturen ähnlicher Größe untersucht werden.

Werden die Kleinwinkelstreuinstrumente mit streifendem Einfall des Strahls an der Probe (sog. “GISANS”) betrieben, verschwinden die Unterschiede ganz.

Das Instrument REFSANS ist für beide Streugeometrien optimiert, was auch durch seine Abkürzung REFSANS zum Ausdruck gebracht wird.

Auf die Untersuchung von Schichten sind die Instrumente NREX und MARIA spezialisiert. Sie können als typische Reflektometer mit Kristallmonochromatoren zur Verbesserung der Auflösung eingruppiert werden.