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NDP
Tiefenprofilanalyse
Dieses Instrument ist auf kalte Neutronen fokussiert. Bitte beachten Sie deshalb aktuell die „Technischen Daten OHNE kalte Quelle“ unten. Wichtige abweichende Parameter sind gefettet. Ihre Rückfragen werden gern vom Instrumentteam beantwortet.
Tiefenprofilanalyse oder Neutron Depth Profiling (NDP) macht sich den Energieverlust geladener Teilchen nach Durchqueren von Materie zu Nutze. Der Verlust ist im Wesentlichen abhängig von den Schichtdicken und den Dichten der Materialien zwischen Entstehungsort des Teilchens und Detektor. Eine neuentwickelte Erweiterung an der PGAA-Anlage ermöglicht die zerstörungsfreie und quantitative Analyse von Tiefenprofilen mit kalten Neutronen.
Das Verfahren ist besonders empfindlich für einige Nuklide der leichten Elemente wie 3He, 6Li, 10B oder 14N mit Nachweisgrenzen bis in den ppb-Bereich. Die Tiefenauflösung ist bis hinunter zu 5nm möglich, ist aber äußerst matrixabhängig. Tiefenprofilanalysen werden insbesondere in der Batterieforschung (Lithium-Ionen-Batterien) eingesetzt. NDP-Messungen sind auch in operando während des Lade- und Entladevorgangs möglich.
ÜbersichtInstrumentverantwortliche
Dr. Zsolt Revay
Telefon: +49 (0)89 289-12694
E-Mail: zsolt.revay@frm2.tum.de
Dr. Christian Stieghorst
Telefon: +49 (0)89 289-54871
E-Mail: christian.stieghorst@frm2.tum.de
Betreiber
Förderung
Publikationen
M. Trunk, M. Wetjen, L. Werner, R. Gernhäuser, B. Märkisch, Zs. Revay, H. Gasteiger, R. Gilles, Materials Science Applications of Neutron Depth Profiling at the PGAA facility of Heinz Maier-Leibnitz Zentrum. (2018). Materials Characterization, 146, 127-134, http://dx.doi.org/10.1016/j.matchar.2018.09.030
M. Wetjen, M. Trunk, L. Werner, R. Gernhäuser, B. Märkisch, Zs. Revay, R. Gilles, H. Gasteiger, Quantifying the Distribution of Electrolyte Decomposition Products in Silicon-Graphite Electrodes by Neutron Depth Profiling. (2018). Journal of The Electrochemical Society, 165, 10, A2340-A2348 , http://dx.doi.org/10.1149/2.1341810jes
M. Wetjen, M. Trunk, L. Werner, R. Gernhäuser, B. Märkisch, Zs. Revay, R. Gilles, H. Gasteiger, Monitoring the Lithium Concentration across the Thickness of Silicon-Graphite Electrodes during the first (De-)Lithiation. (2019). Journal of The Electrochemical Society, 166, 8, A1408-A1411. http://dx.doi.org/10.1149/2.0581908jes
Zitierung Instrument
L. Werner, M. Trunk, R. Gernhäuser, R. Gilles, B. Märkisch, Zs. Revay, The new Neutron Depth Profiling Instrument N4DP at the Heinz Maier-Leibnitz Zentrum. (2018). Nucl Instr Meth A 911, 30-36, http://dx.doi.org/10.1016/j.nima.2018.09.113
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