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MARIA
Magnetisches Reflektometer für große Einfallswinkel
Dieses Instrument ist auf kalte Neutronen fokussiert. Alle hier angegebenen Parameter beziehen sich auf die aktuelle Betriebsphase des FRM II. Bitte kontaktieren Sie für alle Detailfragen (Experimentdauer etc.) vorab das Instrumentteam!
Das Neutronenreflektometer mit Polarisationsanalyse MARIA wurde gebaut um damit dünne magnetische Schichten bis in den Bereich von Monolagen und lateralen Strukturen zu untersuchen. Die Analyse von reflektierten polarisierten Neutronen gestattet es, unabhängig voneinander die Dichte, den Betrag und die Richtung des Magnetisierungsvektors von vergrabenen Schichten zu bestimmen.
MARIA ist optimiert für Schichtdicken von 3 – 300 Å und laterale Strukturgrößen vom Nanometer- bis in den Mikrometerbereich. Um dabei einen maximalen Fluss zu haben, ist das Instrument darauf ausgelegt, mit einem vertikal fokussierten Neutronenstrahl Probengrößen von 1 cm2 bei einer Wellenlänge von λ = 4.5 Å mit maximaler Intensität zu untersuchen, Weiterhin beträgt der maximale Einfallswinkel 180° und der Ausfallswinkel umfasst -14° bis 100°.
MARIA bietet standardmäßig Polarisationsanalyse. Der Strahl wird durch einen polarisierenden Neutronenleiter polarisiertund durch eine Weitwinkel – 3He-Zelle analysiert (oder alternativ durch einen nur den reflektierenden Strahl analysierenden Superspiegel, der gleichzeitig Spinflip- und Non-Spinflip-Signale registriert).
Außer in der oben beschriebenen Betriebsart als Reflektometer mit guter Auflösung in der horizontalen Streuebene kann MARIA auch als GISANS-Instrument unter streifendem Einfall eingesetzt werden. Diese Betriebsart erhöht die Auflösung in vertikaler Richtung und erlaubt Messungen lateraler Strukturen bis in den Nanometerbereich.
Mit Streuexperimenten unter streifendem Einfall kann tiefenaufgelöst die lateral gemittelte Magnetisierung und die Korrelationen ihrer lateralen Fluktuationen untersucht werden. Mit einem polarisierten Neutronenstrahl werden zusätzlich die Vektoren der lateral gemittelten Magnetisierung (Reflektivität) und die Korrelationen der lateralen Fluktuationen erhalten (diffuse Streuung auf der Mikrometerlängenskala, GISANS auf der Nanometerlängenskala).
Mit polarisierten Neutronen ist MARIA allgemein zur Messung magnetischer Rauigkeiten, der Bildung magnetischer Domänen in dünnen Schicht- und lateralen Strukturen geeignet. Mit einem intensiven unpolarisierten Strahl lassen sich Dichteprofile und die Struktur von festen Polymeren untersuchen.
Sehr gut untersucht werden können auch:
Zusätzlich kann das Instrument im nicht-polarisierten Strahlmodus für die Reflektometrie und die GISANS-Untersuchungen von “weichen” Schichten an der Fest/ Flüssig-Grenzfläche verwendet werden, indem geeignete Flüssigkeitszellen verwendet werden, die zur Verfügung stehen. Geeignete Systeme für solche Untersuchungen umfassen Polymerbürsten, Polyelektrolyt-Multischichten, biomimetisch gestützte Membranen, adsorbierte Proteine etc. Für typische Anwendungen mit deuterierten Lösungsmitteln liegt der zu erwartende Dynamikbereich über 6 Größenordnungen.
Zusätzlich steht die gesamte Palette der JCNS-Probenumgebung zur Verfügung, d.h. Magnetfelder bis zu 5 T und Temperaturen von 50 mK bis 500 K.
Alle Komponenten von MARIA können von einem Linux-basierten Computer (“Jülich-Münchner Standard”) gesteuert werden. Von diesem Rechner können ferngesteuert automatische Scans und Geräte der Probenumgebung wie Kryostaten und Elektromagnete programmiert und überwacht werden.
Optimale Probengrößen für Untersuchungen an MARIA sind 10 × 10 mm2 unter folgenden Randbedingungen:Neben dem Reflektometer MARIA steht eine vollausgestattete Molecular-Beam-Epitaxy (MBE)-Anlage zur Herstellung dünner (Oxid)-Schichten für den Nutzer zur Verfügung. Hierin können Proben von typischerweise 10 × 10 mm2 Größe präpariert werden. Schichten, die folgende Elemente enthalten, können hergestellt werden: Al, Cr, Pr, Fe, La, Nb, Ag, Nd, Tb, Sr, Mn, Ti and Co.
Tiefenprofilanalyse mit Neutronen
Zusätzlich zum Reflektometer- und GISANS-Modus kann MARIA mit einem Multidetektor Neutron-Depth Profiling (NDP) Spektrometer betrieben werden. Dieses Spektrometer nutzt den vertikal fokussierten Strahl. NDP ermöglicht die quantitative Bestimmung der Tiefenverteilung leichter Elemente wie 6Li, 10B, 14N und einiger andere. Für diese Betriebsart wird eine NDP-Kammer auf dem Probentisch so platziert, dass sich die Probe automatisch im vertikalen Fokuspunkt des elliptischen Neutronenleiters befindet. Der thermische äquivalente Neutronenfluss erreicht am Probenort 0.7 · 108 n/cm2/sec. Zusammen mit dem Multidetektorsystem für geladene Teilchen ermöglicht das Spektrometer die Durchführung schneller, zeitaufgelöster NDP-Messungen mit einer Tiefenauflösung von 10 nm.
Verschiedene Arten von Festkörper-Li-Batteriezellen und Batteriematerialien.
Instrumentverantwortliche
Dr. Alexandros Koutsioumpas
Telefon: +49 (0)89 158860-674
E-Mail: a.koutsioumpas@fz-juelich.de
Dr. Sabine Pütter
Telefon: +49 (0)89 158860-742
E-Mail: s.puetter@fz-juelich.de
MARIA
Telefon: +49 (0)89 158860-514
Tiefenprofilanalyse
Dr. Egor Vezhlev
Phone: +49 (0)89 158860-654
E-Mail: e.vezhlev@fz-juelich.de
Betreiber
Publikationen
Finden Sie alle aktuellen Publikationen zu MARIA in unserer Publikationsdatenbank iMPULSE:
Heinz Maier-Leibnitz Zentrum. (2015). MARIA: Magnetic reflectometer with high incident angle. Journal of large-scale research facilities, 1, A8. http://dx.doi.org/10.17815/jlsrf-1-29
Zitat bitte stets einschließlich DOI.
Instrumentsteuerung
Gallerie
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