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MLZ

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85748 Garching

Nanostrukturen

Neutronenkleinwinkelstreuinstrumente und Reflektrometer verwenden eine Streugeometrie, die hauptsächlich in Strahlrichtung gerichtet ist. Dadurch können mit beiden Instrumenttypen Strukturen ähnlicher Größe untersucht werden. Werden die die Kleinwinkelstreuinstrumente mit streifendem Einfall des Strahls an der Probe (sog. “GISANS”) betrieben, verschwinden die UnCterschiede ganz. Das Instrument REFSANS ist für beide Streugeometrien optimiert, was auch durch seine Abkürzung REFSANS zum Ausdruck gebracht wird. Auf die Untersuchung von Schichten sind die Instrumente N-REX+ und MARIA spezialisiert Sie können als typische Reflektometer mit Kristallmonochromatoren zur Verbesserung der Auflösung eingruppiert werden.

Instrument

Beschreibung

Betreiber 

KWS-1

Kleinwinkelstreuinstrument

JCNS

KWS-2

Kleinwinkelstreuinstrument

JCNS

KWS-3

Kleinwinkelstreuinstrument mit fokussierendem Spiegel

JCNS

MARIA

Magnetisches Reflektometer für große Einfallswinkel

JCNS

NREX

Polarisiertes Neutronenreflektrometer mit Röntgenoption

MPI Stuttgart

REFSANS

Horizontales Flugzeit-Reflektometer

GEMS

SANS-1

Kleinwinkelstreuinstrument

TUM, GEMS

Wo befinden sich diese Instrumente?

Instrumente: Nanostrukturen Instrumente: Nanostrukturen

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